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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做 

配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。如果放電速度過慢,就會出現(xiàn)通信問題。解決方法:增加終端電阻。CAN結(jié)構(gòu)示意圖2.組網(wǎng)節(jié)點數(shù)少,通信正常,增加節(jié)點後,通信異常??赡茉颍嚎偩€電容過大??偩€電容過大會影響CAN差分波形上升下降速度,如。解決方法:a.檢查CAN節(jié)點接口的外圍電路,是否有外加電容、TVS管等器件,適當去除,以降低電容;降低工作波特率。波特率降低可以延長位時間,減小電容的影響,但若電容過大,則不一定有效??偩€電容影響波形圖3.應(yīng)用中易損壞,更換模塊後正常。

配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

值得一提的是,平均捕獲特彆適合執(zhí)行諧波或電源質(zhì)量。平均捕獲方式高分辨率捕獲模式後就是高分辨率捕獲模式,打個比方,其工作原理就是將一個波形分成5份,然後將一份波形的的每個點求平均,終一個波形變成了5個點。這種處理方式可以有效改善係統(tǒng)的等效分辨率,本質(zhì)上就是一種數(shù)字濾波。用於求平均的采樣點數(shù)越多,分辨率提高得越多,顯示的波形更平滑,從而達到減少噪聲的目的。需要注意的是,高分辨率是針對一個波形相鄰的點做平均處理,所以該模式是對不重複的信號以犧牲帶寬的方式來提升測試精度,故不適合測試高頻信號,適用於觀察高分辨率且?guī)捿^低的波形。配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做如何判彆單、雙向可控矽?先任測兩個極,若正、反測指針均不動(萬用表選電阻R*1Ω擋),可能是K或A極(對單向可控矽)也可能是TT1或TG極(對雙向可控矽)。若其中有一次測量指示為幾十至幾百歐,則必為單向可控矽。且紅筆所接為K極,黑筆接的為G極,剩下即為A極。若正、反向測批示均為幾十至幾百歐,則必為雙向可控矽。再將旋鈕撥至R×1或R×10擋複測,其中必有一次阻值稍大,則稍大的一次紅筆接的為G極,黑筆所接為T1極,餘下是T2極。配電箱溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 定製定做


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