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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗 

JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。但一般有哪些行之有效的降低紋波噪聲的對策呢?下麵我們拋磚引玉,簡單討論常用的八個方法。電源PCB走線和布局反饋線路應(yīng)避開磁性元件、開關(guān)管及功率二極管。輸出濾波電容放置及走線對紋波噪聲至關(guān)重要,如所示,傳統(tǒng)設(shè)計中由於到達每個電容的阻抗不一樣,所以高頻電流在三個電容中分配不均勻,改進設(shè)計中可以看出每個回路長度相當(dāng)即高頻電流會均勻分配到每個電容中。如果PCB是多層板,可以選擇和主電流回路層近一層覆地,覆地可以有效的解決噪聲問題,注意,儘量保證覆地的完整性。

JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

ISO17025明確要求校準結(jié)果要報告測量(校準)不確定度,校準實驗室或測試實驗室做所有校準測量時,應(yīng)該擁有並使用固定的程序來評估測量不確定度。實驗室認可委員會CNAS-CL07:2011《測量不確定度的要求》,要求切實執(zhí)行ISO17025,在校準結(jié)果中逐點正確報告校準不確定度。報告不確定度就是要說明在各項校準工作中,實驗室的校準能力是否達到要求,保證校準質(zhì)量。福祿克55XX係列校準器,包括5500A,5502A,5520A,5522A等多產(chǎn)品校準器,在國內(nèi)已有近兩千臺,服務(wù)於各級計量校準實驗室以及研究機構(gòu)。JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗如果放電速度過慢,就會出現(xiàn)通信問題。解決方法:增加終端電阻。CAN結(jié)構(gòu)示意圖2.組網(wǎng)節(jié)點數(shù)少,通信正常,增加節(jié)點後,通信異常。可能原因:總線電容過大??偩€電容過大會影響CAN差分波形上升下降速度,如。解決方法:a.檢查CAN節(jié)點接口的外圍電路,是否有外加電容、TVS管等器件,適當(dāng)去除,以降低電容;降低工作波特率。波特率降低可以延長位時間,減小電容的影響,但若電容過大,則不一定有效??偩€電容影響波形圖3.應(yīng)用中易損壞,更換模塊後正常。JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


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