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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗 

JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。為歐氏空間遙測的同相位係統(tǒng)實驗室演示器建立數(shù)字控製係統(tǒng),用於將遙測臂之間的光學路徑差維持在10nm之內(nèi),這是確保有效衛(wèi)星操作的必要條件。歐氏空間望遠鏡是為高分辨率光學檢測而優(yōu)化的乾涉儀儀器,利用對成孔徑技術(shù)對地理靜態(tài)軌道進行檢測。為了獲得需要的同相位、所需的分辨率,就要使用複雜的計量和控製係統(tǒng),以便確保光學配置具有必要的穩(wěn)定性。集成了一個演示器(稱為MIT,Michelson乾涉儀測試臺)用於對歐氏空間望遠鏡的兩個關(guān)鍵係統(tǒng)進行驗證,以便達到同相位條件,以及在Michelson乾涉儀儀器中達到的穩(wěn)定邊緣圖案樣式。

JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

電路設(shè)計是傳感器性能是否優(yōu)越的關(guān)鍵因素,由於傳感器輸出端都是很微小的信號,如果因為噪聲導(dǎo)致有用的信號被淹冇,那就得不償失了,所以加強傳感器電路的抗乾擾設(shè)計尤為重要。在這之前,我們必須了解傳感器電路噪聲的來源,以便找出更好的方法來降低噪聲??偟膩碚f,傳感器電路噪聲主要有一下七種:低頻噪聲低頻噪聲主要是由於內(nèi)部的導(dǎo)電微粒不連續(xù)造成的。特彆是碳膜電阻,其碳質(zhì)材料內(nèi)部存在許多微小顆粒,顆粒之間是不連續(xù)的,在電流流過時,會使電阻的導(dǎo)電率發(fā)生變化引起電流的變化,產(chǎn)生類似接觸的閃爆電弧。JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗將對社區(qū)人民的犯罪扼殺在萌芽狀態(tài)。重要設(shè)施、地點安防監(jiān)控。紅外安防監(jiān)控是以物體表麵溫度被動成像的係統(tǒng),在夜間可以作為重要設(shè)施、重點部門、建築、地點現(xiàn)場夜視監(jiān)控使用。銀行、監(jiān)獄、、學校、車站、公園等等。特彆是銀行、監(jiān)獄等地方,一旦彆有用心的犯罪分子進行犯罪活動,往往會特意繞開補光的監(jiān)控設(shè)備進行破壞活動。紅外熱像儀是被動成像,不需要任何補光設(shè)備都能正常成像,可以隱蔽在暗中發(fā)現(xiàn)犯罪活動。巡邏及犯罪。JP櫃溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗


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