HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。利用RFID技術(shù)的無源傳感器標(biāo)簽功能元件芯片和傳感器標(biāo)簽幸運(yùn)的是，有多種集成度更高的無源感測(cè)和優(yōu)化選擇。其中有RF430FRL152H，它集成了實(shí)現(xiàn)圖1所示功能所需的所有電路，包括用於連接到模擬傳感器的14位三角積分AD以及可用於連接數(shù)字傳感器的SPI/I2C端口。RF430FRL15xH帶有通過鐵電RAM(FRAM)實(shí)現(xiàn)的2KB非易失性存儲(chǔ)器，實(shí)現(xiàn)了低功耗、快速讀寫速度、無限次讀/寫耐久性和高電磁抗擾度綜合優(yōu)勢(shì)。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

去耦電容還可以為器件提供局部化的DC電壓源，它在減少跨板浪湧電流方麵特彆有用。旁路：從元件或電纜中轉(zhuǎn)移出不想要的共模RF能量。這主要是通過產(chǎn)生AC旁路消除無意的能量進(jìn)入敏感的部分，另外還可以提供基帶濾波功能(帶寬受限)。我們經(jīng)常可以看到，在電源和地之間連接著去耦電容，它有三個(gè)方麵的作用：一是作為本集成電路的蓄能電容;二是濾除該器件產(chǎn)生的高頻噪聲，切斷其通過供電回路進(jìn)行傳播的通路;三是防止電源攜帶的噪聲對(duì)電路構(gòu)成乾擾。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修由的基本結(jié)構(gòu)可知，是不可能被看為一個(gè)透明的設(shè)備，一定會(huì)有很多性能上的限製，比如電纜和補(bǔ)償設(shè)備決定了的帶寬，又比如中的器件尺寸也決定了的輸入電壓。所以會(huì)有一些基本的參數(shù)。在此歸納一下：衰減係數(shù)衰減係數(shù)，是所有都會(huì)有的一個(gè)參數(shù)，指的是使信號(hào)幅度下降的程度。某些可能會(huì)有可選擇的衰減係數(shù)。典型的衰減係數(shù)有1×、10×和100×。1×表示不會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行衰減。10×則表示信號(hào)會(huì)被衰減10倍再輸入示波器。