HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)	測量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

如下圖所示，使用隔離後，可以有效防止形成地環(huán)路，總線參考地可跟隨共模電壓的波動而波動，共模電壓由隔離帶承受，共模電壓對總線信號變得不再可見，從而保證總線穩(wěn)定可靠地通信。CAN總線上建議使用磁隔離技術(shù)。磁隔離技術(shù)可靠性較高，磁耦消除了與光耦合器相關(guān)的不確定的電流傳送比率、非線性傳送特性以及隨時間漂移和隨溫度漂移問題；磁耦均帶有25KV/us的瞬態(tài)共模能力，且能夠在電壓差峰值560V的環(huán)境下正常工作。1、連接SF₆設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測量時間需要5～10分鐘，其後每臺設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。冇有觸發(fā)係統(tǒng)的波形采樣這個混亂的現(xiàn)象，和示波器上觸發(fā)不穩(wěn)定的現(xiàn)象一致。如下動態(tài)圖所示：這就要靠觸發(fā)係統(tǒng)來實現(xiàn)。觸發(fā)的原理是一直監(jiān)控信號流，若發(fā)現(xiàn)信號滿足設(shè)定的觸發(fā)條件，觸發(fā)器記錄滿足條件的信號，啟動采樣；待數(shù)據(jù)采集完畢後，由控製器對信號進(jìn)行處理和顯示。具體如所示。觸發(fā)過程示波器的觸發(fā)條件的一個很關(guān)鍵的因素是觸發(fā)電平，觸發(fā)電平大多數(shù)情況下是用一根直流電平作為基準(zhǔn)，當(dāng)信號的電壓超過該直流電平的時刻作為采樣波形的起始點(diǎn)。

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。測試時，探針壓在PCB表麵的待測點(diǎn)，然後通電測試每個網(wǎng)點(diǎn)的通斷，並報告存在的短路和斷路缺陷。其局限在於隻能檢測短路和斷路兩種缺陷，缺口、針孔和殘留銅等其它缺陷都無法檢測。針床夾具的成本過高，小批量生產(chǎn)不合適；但是隨著電子組裝向更高密度、更小尺寸、更複雜的PCB混合技術(shù)的縱深發(fā)展，僅依靠人眼檢測或電測試印製電路板的質(zhì)量無法滿足品質(zhì)要求。為提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少進(jìn)入下步工序的有缺陷電路板的數(shù)量，對PCB檢測中的關(guān)鍵設(shè)備----自動光學(xué)檢測(AOI)係統(tǒng)的需求也越來越大。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 上已經(jīng)開始對電子產(chǎn)品的電磁兼容性做強(qiáng)製性限製，電磁兼容性能已經(jīng)成為考核產(chǎn)品性能的重要指標(biāo)之一，因此必須予以重視。電磁兼容主要包括兩方麵的內(nèi)容，一個是產(chǎn)品本身對外界產(chǎn)生的電磁乾擾EMI影響，稱為電磁乾擾發(fā)射；另一個是對外界電磁信號的敏感程度，稱為電磁敏感度EMS。乾擾源、耦合途徑及敏感設(shè)備是電磁兼容的三要素，缺一不可。電磁乾擾信號的耦合途徑有傳導(dǎo)和輻射兩種。改善CAN總線電磁兼容的措施當(dāng)使用非線時，物理層的電磁兼容性就變得非常重要，提高電磁兼容性的措施可分為三種：發(fā)射防護(hù)、吸收防護(hù)、傳導(dǎo)防護(hù)。