HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
HN係列 雷電衝擊電壓發(fā)生器 全自動(dòng)試驗(yàn)變壓器 交直流耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

器件安裝時(shí)需要導(dǎo)熱性能好的絕緣片進(jìn)行絕緣，這就使器件與底板和散熱器之間產(chǎn)生了分布電容，開(kāi)關(guān)電源的底板是交流電源的地線，因而通過(guò)器件與底板之間的分布電容將電磁乾擾耦合到交流輸入端產(chǎn)生共模乾擾，解決這個(gè)問(wèn)題的辦法是采用兩層絕緣片之間夾一層片，並把片接到直流地上，割斷了射頻乾擾向輸入電網(wǎng)傳播的途徑。為了開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)生的輻射，電磁乾擾對(duì)其他電子設(shè)備的影響，可完全按照對(duì)磁場(chǎng)的方法來(lái)加工罩，然後將整個(gè)罩與係統(tǒng)的機(jī)殼和地連接為一體，就能對(duì)電磁場(chǎng)進(jìn)行有效的。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

從更多地點(diǎn)獲取更多傳感器數(shù)據(jù)的需求將推動(dòng)新型傳感器的開(kāi)發(fā)，這些傳感器體積更小、功耗和成本更低，並且易於大量和在狹小空間部署。電子傳感器結(jié)構(gòu)傳統(tǒng)的電子傳感器無(wú)論設(shè)計(jì)怎樣，都包含相同的功能模塊。傳感器的核心模塊是實(shí)際的感測(cè)元件。感測(cè)元件是傳感器的一部分，它對(duì)傳感器環(huán)境作出響應(yīng)，並將環(huán)境條件轉(zhuǎn)換為電參數(shù)。除了感測(cè)元件，傳感器還需要電源用於傳感器內(nèi)部的電子元件和數(shù)據(jù)處理及互聯(lián)電路。大部分電子傳感器包括感測(cè)元件、電源模塊和位於每個(gè)感測(cè)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)處理模塊。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測(cè)量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來(lái)表示的，BX係列波長(zhǎng)色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測(cè)樣品測(cè)量的精度，被樣品的製樣技術(shù)成為影響準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品製備方麵所花的工夫?qū)?huì)反映在結(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器誤差的來(lái)源主要有以下幾個(gè)方麵：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的製備：製樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測(cè)樣品是否在標(biāo)樣的組成範(fàn)圍內(nèi)標(biāo)樣元素測(cè)定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的乾擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體係中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。