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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:5年保修 衝擊電壓試驗裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)5年保修 衝擊電壓試驗裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
5年保修 衝擊電壓試驗裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀5年保修 衝擊電壓試驗裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀產(chǎn)品簡介:

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗,檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

5年保修 衝擊電壓試驗裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀在這個過程中,常常會出現(xiàn)問題,其中區(qū)主要的就是乾擾問題,那我們又該如何解決這個問題,下麵就來介紹幾種常見的方法。習(xí)慣上我們把對電測係統(tǒng)或儀器的測量結(jié)果起影響作用的外部或內(nèi)部的無用信號稱為乾擾。乾擾造成的信號,不僅對設(shè)備本身造成損壞,甚至還會使整個控製係統(tǒng)因邏輯混亂造成控製失靈,形成生產(chǎn)事故,甚至停產(chǎn)。1乾擾的類型按噪聲乾擾模式不同,分為共模乾擾和差模乾擾。共模乾擾和差模乾擾是一種比較常用的分類方法。


衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped 的閃電突波L.I


由於電力電子技術(shù)的飛速發(fā)展,電力電子裝置在電力係統(tǒng)、工業(yè)、交通及家庭中的應(yīng)用日益廣泛,諧波所造成的危害也日趨嚴(yán)重,如何治理電氣中的諧波問題,已經(jīng)成為世界各國的重中之重。背景一:2003年8月17日,美國紐約大停電,數(shù)萬居民在一年中熱的天氣下“煎熬”了5天,發(fā)生60起重大火災(zāi),經(jīng)濟(jì)損失200-300億美元。背景二:九十年代初,三列電氣機(jī)車同時在山西石洞口電廠供電區(qū)域通過,結(jié)果將經(jīng)過十幾次鍛打的12.5兆瓦發(fā)電機(jī)組主軸扭成“麻花”,西北電網(wǎng)因此解網(wǎng),發(fā)生電力係統(tǒng)等級惡故。5年保修 衝擊電壓試驗裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動或自動完成充放電過程,真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間,能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時,根據(jù)設(shè)定值,自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時


端接測試點長時間監(jiān)測異常ZDS4的時序軟件具備長時間統(tǒng)計功能,下班後設(shè)置好示波器,對數(shù)據(jù)采集儀的SPI總線時序連續(xù)監(jiān)測一個晚上,天上班的時候,導(dǎo)出監(jiān)測結(jié)果,如所示,一個晚上總共進(jìn)行了72185次測量,其中有1347次是測量失敗的,導(dǎo)致異常的原因是SPI的數(shù)據(jù)建立時間不滿足後級芯片的時序要求。示波器自動保存了這1347份失敗的測試報告,打開第1345份測試報告,如所示,顯示了當(dāng)前建立時間為3.75ns(包含時序違規(guī)處截圖),不滿足後級芯片4ns建立時間的要求,而且曆史出現(xiàn)差的時序是3.5ns,時序是8.5ns,問題得以。5年保修 衝擊電壓試驗裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀

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