HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
定製定做 衝擊電壓發(fā)生裝置 電纜交流耐壓試驗裝置 CVT檢驗諧振升壓裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

根據(jù)這四個典型的諧波波形可以知道：在嵌入式係統(tǒng)實驗室中，三相的電流波形為整流電路特征，電容充電過程才有電流，有明顯的畸變。通過FFT可以看出3次、5次和7次諧波的THDi含量都很高。其中3次諧波畸變率78%，5次為49%，7次為28%，總諧波畸變率高達95.6%，但實驗室消耗的功率較低，的B相電流為16A，考慮到建築的供電變壓器容量較大，係統(tǒng)阻抗較小，所以電壓畸變率較低，並未超過標準限值。另一個需要注意的現(xiàn)象是中性線電流，當(dāng)僅存在基波電流時，在中性線上會流過三相不平衡電流，各相基波電流相互抵消後的數(shù)值肯定小於相的單相基波電流。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

PCIe是一個在很多領(lǐng)域中都有著廣泛且重要應(yīng)用的接口，經(jīng)過十幾年的發(fā)展，PCIe接口已經(jīng)從1.發(fā)展到現(xiàn)在的3.，4.也已即將開始應(yīng)用。PCIe技術(shù)的物理層基於串行SerDes技術(shù)，因此用極少的物理連線就可以實現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸。筆者在前段時間碰上了兩個PCIe接口失效的問題，個經(jīng)過是PCIe的ESD防護冇有做好導(dǎo)致通訊中斷，個是電源負載過大導(dǎo)致PCIe供電異常，F(xiàn)PGAPCIeIPCORE邏輯時鐘失鎖。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

LabVIEW提供了一門編程語言所擁有的語能，隻是它以圖形的方式提供。LabVIEW基本由一個個VI文件組成。每個VI由前麵板和程序框圖組成?？梢詮膬蓚€角度來理解VI文件：從用戶交互來說，前麵板負責(zé)設(shè)計用戶交互界麵，類似UI設(shè)計工具，一般包括用戶操作控件和輸出結(jié)果控件，像文本框、按鈕、波形顯示控件等；而程序框圖負責(zé)將用戶的操作經(jīng)過一係列的處理，並終輸出結(jié)果，顯示在前麵板上。從功能模塊來說，每個VI文件類似於C語言中的一個函數(shù)，前麵板用來設(shè)計函數(shù)的參數(shù)(輸入)和返回值(輸出)，程序框圖類似函數(shù)體，實現(xiàn)具體邏輯。