HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 雷電衝擊發(fā)生器 乾式試驗(yàn)變壓器 電子式多倍頻發(fā)生器產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

在玻璃尺或玻璃盤上類似於刻線標(biāo)尺或度盤那樣，進(jìn)行長刻線（一般為1?12mm）的密集刻劃，得到如下圖所示的黑白相間間隔細(xì)小的條紋，冇有刻劃的白的地方透光，刻劃的發(fā)黑處不透光，這就是光柵。柵線放大圖實(shí)際上，光柵很早就被人們發(fā)現(xiàn)了，但應(yīng)用於技術(shù)領(lǐng)域隻有一百多年的曆史。早期，人們利用光柵的衍射效應(yīng)進(jìn)行光譜和光波波長的測(cè)定。到了2世紀(jì)5年代，人們開始利用光柵的莫爾條紋現(xiàn)象進(jìn)行精密測(cè)量，從而出現(xiàn)了光柵式傳感器。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

如果套管內(nèi)部存在缺陷，也可能導(dǎo)致套管異常發(fā)熱。在這種情況下，發(fā)生故障套管的整體溫度一般較其他正常的兩相高（如下圖紅外熱像儀應(yīng)用在套管上）。如果套管內(nèi)部或外部接頭存在接觸，或接點(diǎn)被氧化腐蝕，也可能導(dǎo)致套管接觸點(diǎn)溫度異常。在這種情況下，發(fā)生故障套管接觸點(diǎn)就會(huì)表現(xiàn)出觸點(diǎn)的溫度明顯高於其他正常的點(diǎn)或線路或套管。變壓器套管熱缺陷的紅外熱像儀應(yīng)用檢測(cè)依據(jù)根據(jù)DL/T664-20089.1電流致熱型設(shè)備的判斷：套管將軍帽與外部接線板或內(nèi)部導(dǎo)電桿接觸是電流致熱故障，判斷依據(jù)如下：套管內(nèi)部存在缺陷的情況比較複雜：有可能是電壓致熱故障所引起的，也有可能是套管機(jī)械損傷造成的。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

幸運(yùn)的是，大多數(shù)現(xiàn)代測(cè)試係統(tǒng)都基於PC或PXI，可以直接連接到企業(yè)係統(tǒng)，從而實(shí)現(xiàn)額外的功能，如管理軟件和硬件組件、跟蹤使用情況以及執(zhí)行性維護(hù)，從而限度地提高測(cè)試投資的價(jià)值。接入和管理數(shù)據(jù)物聯(lián)網(wǎng)的商業(yè)價(jià)值來自互聯(lián)係統(tǒng)生成的海量數(shù)據(jù)。然而，由於存在數(shù)據(jù)格式和來源，有效利用測(cè)試數(shù)據(jù)變得非常困難，從時(shí)域和頻域的原始模擬和數(shù)字波形到參數(shù)測(cè)量等數(shù)據(jù)通常以遠(yuǎn)高於消費(fèi)者或工業(yè)設(shè)備的速度和數(shù)量進(jìn)行采集。更糟糕的是，測(cè)試數(shù)據(jù)通常存儲(chǔ)在冇有標(biāo)準(zhǔn)化的“孤島”(silos)中。