HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
長期供應(yīng) 雷電衝擊發(fā)生器 乾式試驗變壓器 匝間衝擊耐壓試驗儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

但同時，這種短路保護帶有局限性，在線纜、熔斷器和斷路器的測試時，會由於電源的主動保護而無法進行。為解決此問題，全天科技可編程直流電源引入超低壓模式，可正常進行線纜、熔斷器和斷路器測試，如線纜內(nèi)阻、熔斷器熔斷時間。設(shè)置方式：按下前麵板[Menu]鍵，進入主界麵，選擇2.OUTPUTSETTING；選擇5.ADVANCEDFUNC，進入功能菜單；選擇3.SHORTMODE，進入超低壓模式的設(shè)置；該項默認的設(shè)置為ON，若用戶有線纜或者斷路器測試的需求，將此選項設(shè)定為OFF後便可正常進行。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

對濕度傳感器性能作初步判斷的幾種方法在濕度傳感器實際標定困難的情況下，可以通過一些簡便的方法進行濕度傳感器性能判斷與檢查。一致性判定，同一類型，同一廠家的濕度傳感器產(chǎn)品一次購買兩支以上，越多越說明問題，放在一起通電比較檢測輸出值，在相對穩(wěn)定的條件下，觀察測試的一致性。若進一步檢測，可在24h內(nèi)間隔一段時間記錄，內(nèi)一般都有高、中、低3種濕度和溫度情況，可以較地觀察產(chǎn)品的一致性和穩(wěn)定性，包括溫度補償特性。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76為理想ADC的量化噪聲，6.2為將log2轉(zhuǎn)化為log1的係數(shù)比。很明顯，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重點關(guān)注與測試精度有關(guān)的電路。在數(shù)字示波器的架構(gòu)中，與測試精度有關(guān)的電路有：前端采集電路、ADC采樣電路。被測信號經(jīng)前端采集電路進行調(diào)理後傳輸給ADC進行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對ENOB有較大影響，實際工作時，偏置誤差，非線性誤差，增益誤差，隨機噪聲，甚至還有ADC交織引起的噪聲都會增大ENOB。ENOB說明了什麼ENOB是衡量ADC性能的標尺，若示波器ENOB指標好，那麼偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小，同時帶寬噪聲也較低。如果主要被測信號是正弦波信號，那麼ENOB就需要重點關(guān)注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號調(diào)理電路、ADC采樣電路組成，在設(shè)計的時候，會在前端采用射頻技術(shù)，頻率響應(yīng)方式，實現(xiàn)的頻響平坦度，以便ADC采樣時失真，增大ENOB指標。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是評估示波器測量質(zhì)量的一個重要依據(jù)，通過觀測底噪大小，可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設(shè)計的優(yōu)劣，因為示波器的底噪會增加額外的抖動並較小設(shè)計裕量，對測試結(jié)果造成較大的影響。