HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
30年經(jīng)驗(yàn) 衝擊電壓發(fā)生裝置 串聯(lián)諧振試驗(yàn)設(shè)備 匝間衝擊耐壓試驗(yàn)儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

另外，TEMCELL的高度也不夠，這也是TEMCELL不能進(jìn)行定量測試的一個原因。根據(jù)天線輻射的遠(yuǎn)場測試，對於EGSM/DCS頻段的天線，被測與天線的距離至少大於1米；我們可以看幾乎所有的2D暗室都是遠(yuǎn)大於這個距離。而TEMCELL比這個距離小一些，所以這也是TEMCELL相對於微波暗室來講測量不準(zhǔn)的一個原因。所以，TEMCELL隻能對天線做定性的而不能做定量的。在實(shí)驗(yàn)室可以定性幾種樣機(jī)的差異，比較其性能的優(yōu)劣，但不能作為準(zhǔn)確的標(biāo)準(zhǔn)值來衡量天線的性能，隻能通過與其他的“金雞'(Goldensample)對比，大致來判斷天線的性能。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

溫度感應(yīng)和張力測量電路便是利用精密放大器的應(yīng)用實(shí)例。低輸入偏置電流有時是必需的。光接收係統(tǒng)中的放大器就必須具有低偏置電壓和低輸入偏置電流。比如光電二極管的暗電流電流為pA量級，所以放大器必須具有更小的輸入偏置電流。CMOS和JFET輸入放大器是目前可用的具有輸入偏置電流的運(yùn)算放大器。因?yàn)槲椰F(xiàn)在用的是光電池做采集的係統(tǒng)，所以在使用中重點(diǎn)關(guān)心了偏置電壓和電流。如果還有其他的需要，這時應(yīng)該對其他參數(shù)也需要多考慮了。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號可以立延時

正坡度正坡度曲線是指在整個軸線長度上，誤差呈線性正遞增。這種現(xiàn)象的產(chǎn)生有以下可能：材料熱膨脹補(bǔ)償係數(shù)不正確、材料溫度測量不正確或者波長補(bǔ)償不正確。俯仰和扭擺造成阿貝偏置誤差、機(jī)床的線性誤差。針對這些問題，可采取以下措施：檢查EC10和傳感器是否已連接並有反應(yīng)，或者檢查輸入的手動環(huán)境數(shù)據(jù)是否正確；檢查材料傳感器是否正確以及輸入的膨脹係數(shù)是否正確；使用角度光學(xué)鏡組重新做一次測量，檢查機(jī)床的俯仰和扭擺誤差。