HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 電纜交流耐壓試驗(yàn)裝置 交流耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

好靈性和智能。先解決萬用表的問題——自動(dòng)關(guān)機(jī)電路如下圖所示：聲明下：電路出自於網(wǎng)上，並非該文章作者弄出來的?？?，細(xì)細(xì)下：其實(shí)說白了就是——比較器+RC定時(shí)+三極管開關(guān)R1和C1組成RC定時(shí)網(wǎng)絡(luò)，Q1和Q2組成電子開關(guān)。其工作過程是：當(dāng)把開關(guān)S1置於“關(guān)”時(shí)9V電池對(duì)電容C1充電。使得C1兩端的電壓等於電池電壓。當(dāng)把S1置於“開”時(shí)，電容C1接至運(yùn)放的同相輸入端，同時(shí)也通過R1放電。R2和R5分壓得到約1.5V的電壓加至運(yùn)放的反相輸入端，剛開機(jī)時(shí)電壓AB，運(yùn)放輸出高電平。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

由於多種不同的原因，可能需要在電流檢測(cè)放大器（CSA）的輸入或輸出端進(jìn)行濾波。今天，我們將重點(diǎn)談?wù)勗谑褂谜嬲〉姆至麟娮瑁ㄔ?mΩ以下）時(shí)，用NCS21xR和NCS199AxR電流檢測(cè)放大器實(shí)現(xiàn)濾波電路。低於1mΩ的分流電阻具有並聯(lián)電感，在電流檢測(cè)線上會(huì)引起尖峰瞬態(tài)事件，從而使CSA前端過載。我們來談?wù)劄V除這些特定的尖峰瞬態(tài)事件的主要考慮因素。在某些應(yīng)用中，被測(cè)量的電流可能具有固有噪聲。在有噪聲信號(hào)的情況下，電流檢測(cè)放大器輸出後的濾波通常更簡單，特彆是當(dāng)放大器輸出連接到高阻抗電路時(shí)。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

端接測(cè)試點(diǎn)長時(shí)間監(jiān)測(cè)異常ZDS4的時(shí)序軟件具備長時(shí)間統(tǒng)計(jì)功能，下班後設(shè)置好示波器，對(duì)數(shù)據(jù)采集儀的SPI總線時(shí)序連續(xù)監(jiān)測(cè)一個(gè)晚上，天上班的時(shí)候，導(dǎo)出監(jiān)測(cè)結(jié)果，如所示，一個(gè)晚上總共進(jìn)行了72185次測(cè)量，其中有1347次是測(cè)量失敗的，導(dǎo)致異常的原因是SPI的數(shù)據(jù)建立時(shí)間不滿足後級(jí)芯片的時(shí)序要求。示波器自動(dòng)保存了這1347份失敗的測(cè)試報(bào)告，打開第1345份測(cè)試報(bào)告，如所示，顯示了當(dāng)前建立時(shí)間為3.75ns（包含時(shí)序違規(guī)處截圖），不滿足後級(jí)芯片4ns建立時(shí)間的要求，而且曆史出現(xiàn)差的時(shí)序是3.5ns，時(shí)序是8.5ns，問題得以。