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HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
價(jià)格 衝擊電壓測(cè)試係統(tǒng) 超低頻發(fā)生器 CVT交流耐壓裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。
終,一個(gè)為多家汽車廠商提供子部件的廠家就有可能必須根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn),采用不同的方法,在同一個(gè)頻率範(fàn)圍內(nèi)測(cè)試同樣的部件。為了滿足客戶的測(cè)試需求,部件廠商可以采用一係列針對(duì)ISO11452和SAEJ1113中包含的RF測(cè)試規(guī)範(fàn)而設(shè)計(jì)的汽車部件測(cè)試係統(tǒng)來(lái)幫助完成工作。這些測(cè)試係統(tǒng)通常都是自含(self-contained)係統(tǒng),遵循所有標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的級(jí)彆測(cè)試規(guī)範(fàn)。采用這樣的係統(tǒng)之後,部件廠商在對(duì)多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試時(shí),用到的許多測(cè)試儀器都是相同的,因而能節(jié)省大量資金。
衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)
汽車電子中有隔離和非隔離DUT,常用於在與發(fā)動(dòng)機(jī)、BMS等容易產(chǎn)生瞬時(shí)高壓的設(shè)備部分會(huì)采用隔離的通訊連接,隔離DUT的目的是為防止電磁乾擾影響DUT通信信號(hào)以及瞬時(shí)高壓脈衝損壞DUT;而非隔離DUT,則常用於與低壓車載電子設(shè)備的通信。根據(jù)DUT類型,CANDT設(shè)計(jì)兩種供電模式,隔離供電與非隔離供電,本文與讀者淺談隔離與非隔離電路原理和接線方式的區(qū)彆,以及其對(duì)測(cè)試的影響。常見的CAN設(shè)備分為隔離和非隔離兩類。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征
本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程,真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。
充電控製功能
係統(tǒng)采用恒流充電。
根據(jù)試驗(yàn)要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間,能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí),根據(jù)設(shè)定值,自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。
動(dòng)作控製
本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。
手動(dòng)/自動(dòng)控製。
2 觸發(fā)控製
係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)
使用組合透鏡係統(tǒng)對(duì)物體成像,實(shí)現(xiàn)加電時(shí)液晶透鏡區(qū)域清晰,具有大視場(chǎng)、局部高分辨率的效果。本文通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對(duì)於成像質(zhì)量的影響。研究方向:液晶透鏡成像係統(tǒng)測(cè)試目的:展示成像係統(tǒng)對(duì)於局部區(qū)域的清晰成像效果,測(cè)量不同位置、不同光圈下成像係統(tǒng)的MTF,其對(duì)於成像質(zhì)量的影響。測(cè)試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡係統(tǒng)放大器型號(hào):AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過(guò)程:1.實(shí)驗(yàn)室製備液晶透鏡,並通過(guò)乾涉法獲取波前信息,得到zernike係數(shù),得到液晶透鏡的性能參數(shù),以選擇合適的驅(qū)動(dòng)電壓;組裝成像係統(tǒng),對(duì)不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn);使用ISO12233板對(duì)成像係統(tǒng)進(jìn)行對(duì)焦測(cè)試,測(cè)試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。