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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 試驗變壓器 超低頻耐壓試驗裝置

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的國際標準規(guī)範執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 試驗變壓器 超低頻耐壓試驗裝置
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 試驗變壓器 超低頻耐壓試驗裝置廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 試驗變壓器 超低頻耐壓試驗裝置產(chǎn)品簡介:

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗,檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 試驗變壓器 超低頻耐壓試驗裝置如果您想測量信號占用帶寬也可使用軌跡保持功能。該實例將使用信號儀的信號跟蹤功能來保持漂移信號一直顯示在中心位置,使用信號儀的軌跡保持功能捕獲漂移。將頻率為3MHz、幅度為-2dBm的信號輸入到451信號儀中;設(shè)置信號儀的中心頻率為3MHz、頻寬為1MHz和參考電平為-1dBm;將標記放到信號峰值位置,通過頻率、[信號跟蹤開關(guān)]打開信號跟蹤功能;減小頻寬到5kHz,可以看到信號一直保持在中心位置;關(guān)閉信號跟蹤功能,通過軌跡、[保持]打開保持功能測量信號漂移,當信號變化時,保持功能將維持對輸入信號的響應(yīng)。


衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標準規(guī)範執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped 的閃電突波L.I


上表所示為使用LabSat輸出上的多種外部衰減器,以UBLOXGPS引擎測得的C/No值。對於每項外部衰減器值,LabSatRF水平均按5dB的步階變化。根據(jù)表中所示,信噪比控製的線性度隨著外部衰減的增加而改善。但如果外部衰減遠高於40dB,內(nèi)部可用的滑塊範圍就會減少。左側(cè)屏幕截圖所示為UBLOXU-Center軟件的輸出示例。GPGSVNMEA信息會打開,以顯示每顆衛(wèi)星的C/NO水平。UBLOXTIM-LA裝置采用以下設(shè)置進行測試:?LabSat?使用SatGen生成的靜態(tài)場景?2個20dBm衰減器(MinicircuitsVAT-20W2)針對TIM-LA,UBLOX數(shù)據(jù)表采用-138dBm用於捕獲靈敏度,-146dBm用於跟蹤靈敏度。廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 試驗變壓器 超低頻耐壓試驗裝置
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動或自動完成充放電過程,真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間,能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時,根據(jù)設(shè)定值,自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時


如果示波器冇有足夠大的存儲深度,則再高的采樣率也無法充分發(fā)揮價值。ZDS454Plus標配512Mpts存儲深度,哪怕麵對4GSa/s的采樣率,也能存儲長達128ms的波形?!罢嬲饬x”測量如果不能對所有存儲深度的每一個波形都進行測量,存儲深度的價值也就是“波形不失真”這一基本要求而已,卻無法更進一步地去自動挖掘出波形中存在的異常。隻有具備“真正意義”參數(shù)測量統(tǒng)計功能,512Mpts的海量數(shù)據(jù)的價值才能被挖掘,否則如果隻測其中的一個周期,海量的數(shù)據(jù)有何意義?不同於傳統(tǒng)示波器隻測一個周期,或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測量的模式,ZDS454Plus通過FPGA全硬件並行處理,基於原始采樣率和512Mpts全存儲深度,對每一幀波形每一周期進行測量統(tǒng)計,可在幾百毫秒內(nèi)實現(xiàn)對512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測量,測試項目可達51種,並且支持24種參數(shù)同時顯示。廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生器 試驗變壓器 超低頻耐壓試驗裝置

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