HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生裝置 超低頻高壓發(fā)生器 超低頻耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

敏感單元其內(nèi)部結(jié)構(gòu)見。對(duì)不同的傳感器來說，敏感單元的製造材料有所不同。如，SD2的敏感單元由鋯鈦酸鉛製成；P2288由LiTaO3製成。這些材料再做成很薄的薄片，每一片薄片相對(duì)的兩麵各引出一根電極，在電極兩端則形成一個(gè)等效的小電容，圖中的PP2。因?yàn)檫@兩個(gè)小電容是做在同一矽晶片上的，而它們形成的等效小電容能自身產(chǎn)生極化，極化的結(jié)果是，在電容的兩端產(chǎn)生極性相反的正、負(fù)電荷。但這兩個(gè)電容的極性是相反串聯(lián)的。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

大直徑測(cè)徑儀是對(duì)大直徑鋼管、棒材、鋼軸等進(jìn)行在線檢測(cè)的設(shè)備，但為了適用於各規(guī)格軋材的使用，大直徑測(cè)徑儀的量程非常大，本文就介紹一下如何操作選擇合適的量程以應(yīng)對(duì)各規(guī)格的軋材外徑檢測(cè)。大直徑測(cè)徑儀是集光學(xué)、機(jī)械、電子電路、通訊和計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)為一身的成套設(shè)備。整套係統(tǒng)主要由探測(cè)頭、安裝框架、導(dǎo)軌滑臺(tái)、工控機(jī)、控製櫃等幾部分構(gòu)成。它可自動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)量範(fàn)圍，方便不同軋材尺寸的在線檢測(cè)，在選擇測(cè)徑儀時(shí)，將生產(chǎn)線上生產(chǎn)的所有規(guī)格的軋材外徑範(fàn)圍都考慮進(jìn)去，即範(fàn)圍與範(fàn)圍，保證測(cè)徑儀的測(cè)量範(fàn)圍包含所有量程。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

不確定性是始終存在的，對(duì)誤差來源的評(píng)估可以幫助確定測(cè)量的不確定度。除上述外，還有一些相關(guān)術(shù)語在依據(jù)美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（NIST）或其它標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)的說明文件來描繪性能時(shí)會(huì)有用?？擅枋鲂允潜ＷC所有的測(cè)量器件有一個(gè)共同的基準(zhǔn)所必須的。所謂“規(guī)範(fàn)”是指保證性能由校準(zhǔn)溯源到NIST的測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生?！暗湫汀蓖馕吨阅苁菧y(cè)試，但不包括測(cè)量不確定因素?！跋笳餍浴钡谋憩F(xiàn)通常是補(bǔ)充信息，不是在每個(gè)儀器上的普遍測(cè)量。