HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 衝擊電壓測(cè)試係統(tǒng) 充氣式試驗(yàn)變壓器 交流耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

PCIe是一個(gè)在很多領(lǐng)域中都有著廣泛且重要應(yīng)用的接口，經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展，PCIe接口已經(jīng)從1.發(fā)展到現(xiàn)在的3.，4.也已即將開(kāi)始應(yīng)用。PCIe技術(shù)的物理層基於串行SerDes技術(shù)，因此用極少的物理連線就可以實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸。筆者在前段時(shí)間碰上了兩個(gè)PCIe接口失效的問(wèn)題，個(gè)經(jīng)過(guò)是PCIe的ESD防護(hù)冇有做好導(dǎo)致通訊中斷，個(gè)是電源負(fù)載過(guò)大導(dǎo)致PCIe供電異常，F(xiàn)PGAPCIeIPCORE邏輯時(shí)鐘失鎖。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

2014年7月，奔馳和寶馬聯(lián)合宣布要合作研發(fā)電動(dòng)汽車無(wú)線充電技術(shù)。奔馳將基於全新S級(jí)進(jìn)行測(cè)試，而寶馬則計(jì)劃率先將其應(yīng)用在i8身上。奧迪則在2015CES展上，展示了奧迪的無(wú)線充電設(shè)備，這套可自動(dòng)升降供電線圈的無(wú)線充電技術(shù)，足以應(yīng)對(duì)底盤(pán)較高的SUV。除沃爾沃以外，車企基本都是運(yùn)用在車輛靜止的狀態(tài)充電的方式。2012年，沃爾沃就啟動(dòng)了一個(gè)名叫“電網(wǎng)道路係統(tǒng)”的項(xiàng)目，並在瑞典的測(cè)試中心建設(shè)了一條長(zhǎng)約400米的測(cè)試道路。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

當(dāng)時(shí)是秋冬之交，雨水進(jìn)入到ECD排出口之後凍住了，因此造成儀器ECD的出口堵塞，柱頭壓居高不下，氣體在氣路中無(wú)法流動(dòng)，也就無(wú)法載樣品到檢測(cè)器，所以不出峰。基線問(wèn)題氣相色譜基線波動(dòng)、飄移都是基線問(wèn)題，基線問(wèn)題可使測(cè)量誤差增大，有時(shí)甚至?xí)?dǎo)致儀器無(wú)法正常使用。遇到基線問(wèn)題時(shí)應(yīng)先檢查儀器條件是否有改變，近期是否新?lián)Q氣瓶及設(shè)備配件。如果有更換或條件有改變，則要先檢查基線問(wèn)題是不是由這些改變?cè)斐傻模话銇?lái)說(shuō)，這種變化往往是產(chǎn)生基線問(wèn)題的原因。