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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:帶通訊 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間耐壓測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)帶通訊 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間耐壓測(cè)試儀
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
帶通訊 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間耐壓測(cè)試儀帶通訊 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡介:

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

帶通訊 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間耐壓測(cè)試儀變頻器概述變頻器主要分為兩類:電壓型,將電壓源的直流變換為交流,其直流回路通過電容濾波。輸出電壓波形為矩形波電流波形近似正弦波。一般要深度負(fù)反饋,有穩(wěn)定作用;電流型,將電流源的直流變換為交流,其直流回路通過電感濾波。電流波形為矩形波電壓波形近似正弦波。一般為正反饋,有增益作用?,F(xiàn)在的變頻器主要采用VVVF變頻或矢量控製變頻,也就是先把工頻交流電通過整流器轉(zhuǎn)換成直流電源,再把直流電源轉(zhuǎn)換成頻率、電壓均可控製的交流電供給電機(jī)。


衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped 的閃電突波L.I


LP8758就是業(yè)內(nèi)進(jìn)多相位轉(zhuǎn)換器的示例,它是處理器電源的理想選擇。它具有低IQ,小總體解決方案尺寸,16A峰值電流能力,低紋波和快速瞬態(tài)。在多個(gè)電感器,而不是在一個(gè)電感器內(nèi)儲(chǔ)存電能,降低了電感器尺寸。這使得設(shè)計(jì)人員能夠使用具有小芯片電感器的LP8758,使得解決方案尺寸減小到60mm2以下。如所示,每個(gè)輸出稍微運(yùn)行在相位之外。由於紅色和藍(lán)色的相位電流在相位之外,它們能夠組合在一起,而又不會(huì)在輸出上導(dǎo)致較大的紋波。帶通訊 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間耐壓測(cè)試儀
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程,真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間,能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí),根據(jù)設(shè)定值,自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)


目前常用的離子化方法(EICP、ESMALDI等)在實(shí)驗(yàn)中(嚴(yán)格來說僅在一定濃度範(fàn)圍內(nèi)——術(shù)語是動(dòng)態(tài)範(fàn)圍,dynamicrange)都至少滿足樣品量與產(chǎn)生離子量的正相關(guān),一般情況下也可以進(jìn)一步近似成線性相關(guān)。傳輸離子時(shí),簡單來說可以認(rèn)為傳輸效率與被傳輸離子的量無關(guān);(嚴(yán)格地說,被傳輸?shù)碾x子太多時(shí),相同電荷的互相排斥會(huì)造成離子束的“體積”變大,導(dǎo)致傳輸效率下降。這種影響在空間有限的離子阱中表現(xiàn)得更加明顯,因此在離子阱質(zhì)譜中一個(gè)重要的技術(shù)就是適當(dāng)控製進(jìn)入儀器的離子數(shù)量,使其既不太少也不太多。帶通訊 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間耐壓測(cè)試儀

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