HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
長(zhǎng)期供應(yīng) 衝擊電壓測(cè)試係統(tǒng) 電纜交流耐壓試驗(yàn)裝置 匝間絕緣電阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

CAN總線(xiàn)技術(shù)應(yīng)用越來(lái)越廣泛，但由於在工業(yè)設(shè)備、工業(yè)自動(dòng)化等領(lǐng)域，電磁乾擾較為嚴(yán)重，保證CAN總線(xiàn)的正常通信尤為重要。本文將搭配高速CANFD的總線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)電磁乾擾的原因，及具體改善方案。CANFD網(wǎng)絡(luò)下電磁兼容在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)中，電磁兼容EMC性能對(duì)係統(tǒng)的影響非常大，關(guān)係到其能正常穩(wěn)定運(yùn)轉(zhuǎn)。世界上已經(jīng)開(kāi)始對(duì)電子產(chǎn)品的電磁兼容性做強(qiáng)製性限製，電磁兼容性能已經(jīng)成為產(chǎn)品性能的一個(gè)重要指標(biāo)。電磁兼容主要有兩方麵的內(nèi)容，一個(gè)是產(chǎn)品本身對(duì)外界產(chǎn)生的電磁乾擾影響，稱(chēng)為電磁乾擾發(fā)射EMI；另一個(gè)是對(duì)外界電磁信號(hào)的敏感程度稱(chēng)為電磁敏感度EMS。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

其更常用的說(shuō)法為折合到輸入端噪聲。折合到輸入端噪聲通常用將直流輸入施加到轉(zhuǎn)換器時(shí)的若乾輸出樣本的直方圖來(lái)表征。大多數(shù)高速或高分辨率ADC的輸出為一係列以直流輸入標(biāo)稱(chēng)值為中心的代碼。為了測(cè)量其值，ADC的輸入端接地或連接到一個(gè)深度去耦的電壓源，然後采集大量輸出樣本並將其表示為直方圖（有時(shí)也稱(chēng)為“接地輸入”直方圖）-見(jiàn)。由於噪聲大致呈高斯分布，因此可以計(jì)算直方圖的標(biāo)準(zhǔn)差σ，它對(duì)應(yīng)於有效輸入均方根噪聲，表示為L(zhǎng)SBrms。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

同時(shí)導(dǎo)致波形存儲(chǔ)變長(zhǎng)，響應(yīng)變慢；FFT輸入樣點(diǎn)變多也會(huì)嚴(yán)重影響響應(yīng)速度；需要手動(dòng)控製采樣深度，采樣率等等；很難用頻譜縮放展示頻譜範(fàn)圍?！边@些問(wèn)題都讓我越發(fā)頭疼，如何才能解決這些問(wèn)題呢？泰克新推出的4係列MSO示波器的SpectrumView功能可以解決這些問(wèn)題。-采樣技術(shù)使得時(shí)域頻域控製互不乾擾，比傳統(tǒng)FFT更易用-可以在兩個(gè)域同時(shí)從不同角度觀測(cè)信號(hào)-觀測(cè)頻域信號(hào)在時(shí)間軸上的變化-信號(hào)/事件在頻域和時(shí)域上發(fā)生時(shí)的相關(guān)性多通道測(cè)試頻譜應(yīng)用過(guò)程中，SpectrumView與頻譜儀FFT模式下的數(shù)據(jù)處理過(guò)程相同，雖然測(cè)試動(dòng)態(tài)不如頻譜儀，但是SpectrumView有著自己的優(yōu)勢(shì)，比如可以測(cè)試極低頻率的信號(hào)，具有豐富靈活的探測(cè)方式，以及時(shí)頻的相關(guān)性。