HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
大量供應(yīng) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置 匝間衝擊耐壓試驗(yàn)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

未來的物聯(lián)網(wǎng)環(huán)境中需要接入的智能設(shè)備相比於現(xiàn)在恐怕隻多不少，鏈接數(shù)目的預(yù)留為日後的發(fā)展留足了空間。高覆蓋：NB-IoT室內(nèi)覆蓋能力強(qiáng)，比LTE提升20dB增益，相當(dāng)於提升了100倍覆蓋區(qū)域能力。遼闊的土地?zé)o疑有許多應(yīng)用場(chǎng)景需要這樣廣闊的覆蓋能力。不論是城市的廣場(chǎng)，還是農(nóng)村廣闊的田野。都有它大展拳腳的機(jī)會(huì)所在。低功耗：低功耗特性是物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用一項(xiàng)重要指標(biāo)，NB-IoT聚焦小數(shù)據(jù)量、小速率應(yīng)用，因此NB-IoT設(shè)備功耗可以做到非常小，設(shè)備續(xù)航時(shí)間可以從過去的幾個(gè)月大幅提升到幾年。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

激光器能夠產(chǎn)生2mils的電路跡線，間距為1mil，從而使得整個(gè)間距僅為3mils。雖然使用激光光束生產(chǎn)電路是PCB樣品快的方法，但大規(guī)模進(jìn)行表麵蝕刻應(yīng)用留給化學(xué)工藝。應(yīng)用2:PCB的拆卸紫外激光器切割對(duì)於大型或小型生產(chǎn)來說都是一個(gè)的選擇，同時(shí)對(duì)於PCB的拆卸，尤其是需要應(yīng)用於柔性或剛?cè)峤Y(jié)合的電路板上時(shí)也是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。拆卸就是將單個(gè)電路板從嵌板上移除，考慮到材料柔性的不斷增加，這種拆卸就會(huì)麵臨很大的挑戰(zhàn)。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

一般來說，直流電源具有CV/CC兩種工作模式，分彆對(duì)應(yīng)內(nèi)部?jī)蓚€(gè)環(huán)路(CV控製環(huán)和CC控製環(huán))。當(dāng)今市場(chǎng)上的大多數(shù)電源供應(yīng)器均采用電壓優(yōu)先模式設(shè)計(jì)，不能提供電流環(huán)控製優(yōu)先模式；事實(shí)上這種情況非常普遍，大多數(shù)工程師甚至從來冇有意識(shí)到還有優(yōu)先模式存在，他們隻是期望自己的電源能夠正常提供電壓電流和功率輸出。但隨著電子測(cè)試需求的變革，這種方式的局限性也體現(xiàn)出來，CV控製環(huán)優(yōu)先的情況下，雖然一定程度上可以加快電壓的上升速度，但不能夠適用於對(duì)電流過衝測(cè)試要求嚴(yán)苛的場(chǎng)合。