HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
來電諮詢 衝擊電流發(fā)生器 直流高壓發(fā)生器 超低頻耐壓試驗裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質衝擊擊穿、放電等試驗中。

與儀器儀表有關的生命周期服務有：安裝與調試、支持與維護服務、搬遷規(guī)劃與升級項目、儀器諮詢與流程，以及培訓、校驗、零件與維修服務。這些服務的一個重要方麵是協(xié)助客戶避免因信號完整性不足或儀器、執(zhí)行器的故障引起突發(fā)停機。突發(fā)停機會帶來嚴重後果會造成數(shù)千甚至數(shù)百萬美元的生產(chǎn)損失和資源浪費。ABB提供的緊急維修協(xié)助，旨在縮短突發(fā)停機的時間。在目前情況下，客戶要求儀器供應商進行拜訪或簽署合同，在預定的停工時間內進行定期維護，這種方法的檢修成本勢必很高。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

測試采用TOS2000B係列示波器外觀如下圖：測試步驟如下：1.電壓衰減設置→2.采集通道調試→3.觸發(fā)控製→4.光標測量讀數(shù)設置1.電壓衰減設置電壓有不同的衰減係數(shù)，這些係數(shù)影響信號的垂直刻度。檢查向導驗證示波器的衰減係數(shù)是否與匹配。作為檢查的替代方法，您可以手動選擇與衰減相匹配的係數(shù)。，要與連接到CH1的設置為10X的相匹配，請按下通道1“Menu（菜單）”“”“電壓”“衰減”選項，然後選擇10X。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

MOSI-主設備數(shù)據(jù)輸出，從設備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設備數(shù)據(jù)輸入，從設備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時鐘信號，由主設備產(chǎn)生;SS–從設備使能信號，有主設備控製;SPI標準通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點是傳輸數(shù)據(jù)快，能達到幾兆到幾十兆，並且冇有係統(tǒng)開銷。SPI總線的缺點也比較明顯，主要是冇有的流控製，也冇有應答機製確認是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類的SPI通訊接口方式。