HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
定製定做 衝擊電壓測試係統(tǒng) 直流高壓發(fā)生器 三倍頻發(fā)生器產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

在此基礎上，多T/R組件並行測試實現(xiàn)還是一個比較棘手的問題。概況來講，主要包括如下幾個方麵的問題：測試資源競爭和死鎖問題測試資源競爭問題：在執(zhí)行過程中多個測試任務需要同時訪問一個資源所引起的問題，都需要矢量網(wǎng)絡儀怎麼處理？死鎖問題：多個測試任務互相等待對方釋放自己所需資源，從而導致這些測試都無法繼續(xù)運行的問題。多線程測試任務管理問題並行測試是多線程執(zhí)行模式，這就出現(xiàn)了如何對這些測試任務進行全生命周期有效管理的問題。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

當總線變?yōu)榭臻f時，若RXD引腳輸出低電平，則可能導致MCU接收到錯誤數(shù)據(jù)或MCU在正常數(shù)據(jù)後誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據(jù)發(fā)生了什麼變化?如所示，1在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內(nèi)時輸出高電平，2在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內(nèi)時輸出低電平，可以看出，2可能導致MCU接收到錯誤的數(shù)據(jù)，並且在數(shù)據(jù)後誤接收到1個000數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)後多000如所示，若總線上持續(xù)存在數(shù)據(jù)信號或連續(xù)發(fā)送多個字節(jié)數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)之間存在的空閒狀態(tài)可能會被2識彆為1個起始位，從而導致數(shù)據(jù)連續(xù)錯誤。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

熱像儀能夠檢測電路板上每個元器件的溫度，這是其他測溫工具所做不到的;把空調(diào)器控製板上每個元器件的溫度控製在限度範圍內(nèi)，將可以大大提高運行穩(wěn)定性和產(chǎn)品壽命。：PCB板因功率器件發(fā)熱傳遞至背麵，局部溫度偏高。：功率二極管發(fā)熱狀態(tài)，長時間開啟溫度不得超過1℃。B汽車電子係統(tǒng)的發(fā)熱測試在汽車電子的電路研發(fā)過程中，進行負載是必須的;熱像儀提供了通過溫度檢測進行負載的手段，通過熱像圖可以很直觀的辨識出高功耗部位，為工程師完善電路，提高轉(zhuǎn)換效率、減少功耗、減少電路內(nèi)部溫升提供強有力依據(jù)。