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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:使用方法 衝擊電壓試驗裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機交流耐壓試驗裝置

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的國際標準規(guī)範執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)使用方法 衝擊電壓試驗裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機交流耐壓試驗裝置
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 衝擊電壓試驗裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機交流耐壓試驗裝置使用方法 衝擊電壓試驗裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機交流耐壓試驗裝置產(chǎn)品簡介:

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗,檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

使用方法 衝擊電壓試驗裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機交流耐壓試驗裝置本應(yīng)用測試針對非標稱50Ω的線纜,包括同軸、雙絞線、差分高速數(shù)據(jù)線的測試,包括阻抗參數(shù)、S參數(shù)(插損、駐波、Smith圖等等),也可以繪製眼圖。根據(jù)電纜的性能,如頻率範圍、長度、是否差分,設(shè)置時域門控,可以按照線纜連接的位置,門控選通,獲得實際物理線纜的各項參數(shù)結(jié)果。門控選通測試結(jié)果對應(yīng)被測線纜,不含接頭和夾具以及其它測試線纜。必要性和難點由於被測線纜不是50Ω標準同軸線纜,可能是高速數(shù)據(jù)線、差分線等。


衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標準規(guī)範執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped 的閃電突波L.I


光電探測器是將光脈衝轉(zhuǎn)換成電信號的元器件,在LiDAR係統(tǒng)中充當眼睛的角色,是關(guān)鍵的傳感器。目前主要的光電探測器有雪崩光電二極管(AvalanchePhotonDiode,簡光電探測器是將光脈衝轉(zhuǎn)換成電信號的元器件,在LiDAR係統(tǒng)中充當“眼睛”的角色,是關(guān)鍵的傳感器。目前主要的光電探測器有雪崩光電二極管(AvalanchePhotonDiode,簡稱APD)/單光子雪崩二極管(SinglePhotonAvalancheDiode,簡稱SPAD)、矽光電倍增管(MPPC)和PIN光電二極管。使用方法 衝擊電壓試驗裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機交流耐壓試驗裝置
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動或自動完成充放電過程,真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間,能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時,根據(jù)設(shè)定值,自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時


對有源天線陣列進行校準需要很長的生產(chǎn)測試時間。大型陣列可能包含成百上千個陣元,有必要通過表征這些陣元間的相位和增益關(guān)係,以確保精密的波束賦形。而且,進行陣元調(diào)整所需的測試時間會隨著陣元數(shù)量的增加而大幅增長。使用多個相參測量通道能夠有效地縮短測試時間。現(xiàn)在通常使用一臺多端口網(wǎng)絡(luò)儀在天線上執(zhí)行相對增益和相位測量,一般是通過開關(guān)矩陣對所有的天線端口或通道執(zhí)行這種測量。這會產(chǎn)生很長的測試時間,尤其是對包含成百上千陣元的陣列。使用方法 衝擊電壓試驗裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機交流耐壓試驗裝置

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