HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
價(jià)格 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 交流耐壓試驗(yàn)裝置 CVT變頻諧振交流耐壓裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

相位噪聲從頻域描述了信號(hào)頻率的穩(wěn)定度，是描述信號(hào)質(zhì)量的重要指標(biāo)。對(duì)於多普勒雷達(dá)係統(tǒng)、無線電通信、空間信號(hào)傳輸?shù)葢?yīng)用有著重要的影響。對(duì)信號(hào)進(jìn)行相位噪聲指標(biāo)測量是現(xiàn)在工作中經(jīng)常遇到的事情，本文從信號(hào)相位噪聲的定義入手，重點(diǎn)介紹使用信號(hào)儀進(jìn)行相位噪聲測量的方法及注意事項(xiàng)。相位噪聲是什麼？在頻域內(nèi)，一個(gè)理想正弦波信號(hào)的表現(xiàn)是一個(gè)單譜線；實(shí)際信號(hào)除了主信號(hào)之外還包括一些離散的譜線，它們是隨機(jī)的幅度和相位的抖動(dòng)，在正常信號(hào)的左右兩邊以邊帶調(diào)製的形式出現(xiàn)。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

用頻率顯示雜散信號(hào)的光譜示例。三個(gè)示例：無雜散去相關(guān)的兩個(gè)組合CW信號(hào)；強(qiáng)製雜散去相關(guān)的兩個(gè)組合CW信號(hào)；以及強(qiáng)製雜散去相關(guān)的兩個(gè)組合調(diào)製信號(hào)。測量結(jié)果組裝了一個(gè)基於的8通道射頻測試臺(tái)，用於評(píng)估相控陣應(yīng)用的產(chǎn)品線。評(píng)估波形發(fā)生器的測試設(shè)置如所示。在該測試中，將相同的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)應(yīng)用於所有波形發(fā)生器。通過調(diào)整NCO相位實(shí)施跨通道校準(zhǔn)，以確保射頻信號(hào)在8路組合器處同相並且相乾地組合。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

簡介40多年來，數(shù)字功能測試一直是測試領(lǐng)域的一部分。早的測試係統(tǒng)采用簡單的靜態(tài)數(shù)字測試功能。然而，隨著這些數(shù)字設(shè)備，模塊和係統(tǒng)的性能、複雜性的發(fā)展，數(shù)字測試儀器也在不斷發(fā)展。特彆是，器件切換速率相關(guān)技術(shù)的持續(xù)進(jìn)步已經(jīng)對(duì)測試儀器和係統(tǒng)提供了相對(duì)更高的性能要求，而今天的半導(dǎo)體測試係統(tǒng)提供了具有高功耗的數(shù)GHz測試功能。在**-航天應(yīng)用，數(shù)字功能測試要求不斷的提出一係列特的要求和挑戰(zhàn)。與設(shè)備測試相關(guān)的測試要求不同，M-A應(yīng)用主要側(cè)重於支持模塊和係統(tǒng)級(jí)測試。