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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:30年經(jīng)驗(yàn) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)30年經(jīng)驗(yàn) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
30年經(jīng)驗(yàn) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀30年經(jīng)驗(yàn) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

30年經(jīng)驗(yàn) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀實(shí)測(cè)頻譜儀,近場(chǎng),結(jié)合恒電磁波傳輸小室(簡(jiǎn)稱TEM小室)能作為識(shí)彆輻射乾擾根源的基本工具。本次測(cè)試我們采用鼎陽(yáng)科技SSA3021X頻譜儀和選配的近場(chǎng)以及TekBox的TEM小室。我們打開(kāi)頻譜儀然後設(shè)置如下:SPAN設(shè)置為530KHz到2MHz;RBW設(shè)置為9KHz,衰減設(shè)置為0dB,顯示設(shè)置為電壓平均;打開(kāi)頻譜儀標(biāo)配的預(yù)置放大器,並選用正峰值檢波器,測(cè)試結(jié)果如下:頻譜儀基礎(chǔ)設(shè)置在以上設(shè)置參數(shù)參考的情況下,顯示平均噪聲電平(DANL)大約在-20dBμV左右,這個(gè)指標(biāo)在同級(jí)彆的頻譜儀中算是非常好的。


衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped 的閃電突波L.I


按照存儲(chǔ)芯片MicroSD卡供電要求的範(fàn)圍:2.7V-3.6V;不允許超出此範(fàn)圍,否則,芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會(huì)有比較大的風(fēng)險(xiǎn),甚至?xí)?duì)卡片的正常工作帶來(lái)影響。需要考慮的是示波器的設(shè)置,究竟是否需要進(jìn)行20MHZ的帶寬限製?詳細(xì)的使用環(huán)境如下圖所示:如何去測(cè)試“高頻開(kāi)關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來(lái)的那個(gè)端口可以當(dāng)做電源的源端,而通過(guò)後端的外圍模塊後在末端進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候,電源通過(guò)了一段PCB走線,包括一些芯片回路,應(yīng)該存在高頻的噪聲,如果采用20MHZ的帶寬限製,實(shí)際上是將原本屬於模塊的噪聲給濾掉了,為此,我們進(jìn)行了對(duì)比測(cè)試進(jìn)行驗(yàn)證:步,我先驗(yàn)證IPAD的供電端在工作時(shí)的輸出,如下圖:通過(guò)直接驗(yàn)證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的;通過(guò)測(cè)試,我們發(fā)現(xiàn)在源端測(cè)量的電壓值在3.4V(500MHZ帶寬測(cè)量)左右,峰峰值29mV,是非常穩(wěn)定的供電;可以排除源端供電的問(wèn)題,接下來(lái),我們直接在通過(guò)整個(gè)模塊後在MicroSD卡的供電腳SDVCC對(duì)電行測(cè)量,如下圖:當(dāng)我們?cè)趫D片上的點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候,發(fā)現(xiàn)在高頻開(kāi)關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲,使得電壓超出了規(guī)範(fàn)要求的範(fàn)圍,值達(dá)到了3.814V,峰峰值達(dá)854mV;但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時(shí)候,高頻開(kāi)關(guān)電源變的非常好,完全在供電要求的範(fàn)圍內(nèi);正如在本文開(kāi)頭描述的,在本次高頻開(kāi)關(guān)電源測(cè)試過(guò)程中,已經(jīng)不是高頻開(kāi)關(guān)電源紋波測(cè)量,而應(yīng)該是噪聲。30年經(jīng)驗(yàn) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作,手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程,真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間,能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí),根據(jù)設(shè)定值,自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上,延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)


為了解決這個(gè)問(wèn)題,必須製定一係列的內(nèi)部接口標(biāo)準(zhǔn),否則行業(yè)將成為碎片化的產(chǎn)業(yè)。2003年,由ARM,Nokia,ST,TI等公司聯(lián)合成立了一個(gè)聯(lián)盟——MIPI是,目的就是是把內(nèi)部的接口如攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,從而減少設(shè)計(jì)的複雜程度和增加設(shè)計(jì)靈活性。MIPI聯(lián)盟下麵有不同的WorkGroup,分彆定義了一係列的內(nèi)部接口標(biāo)準(zhǔn),比如攝像頭接口CS顯示接口DS射頻接口DigR麥克風(fēng)/喇叭接口SLIMbus等。30年經(jīng)驗(yàn) 雷電衝擊電壓發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 匝間絕緣電阻測(cè)試儀

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