HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
規(guī)格齊全 衝擊電壓發(fā)生裝置 帶時間直流高壓發(fā)生器 感應(yīng)耐壓試驗裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

為了從頻率角度說明概念，展示了一個帶有來自直接變頻架構(gòu)的兩個發(fā)送信號的示例。在這些示例中，射頻位於LO的。在直接變頻架構(gòu)中，鏡像頻率和三次諧波出現(xiàn)在LO的相對側(cè)，並顯示在LO頻率下方。當(dāng)將不同通道的LO頻率設(shè)置為相同的頻率時，雜散頻率也處於相同的頻率，如a所示。b所示為LO2的設(shè)置頻率高於LO1的情況。數(shù)字NCO同等地偏移，使RF信號實現(xiàn)相乾增益。鏡像和三次諧波失真積處於不同的頻率，因此不相關(guān)。

衝擊測試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

據(jù)，216年汽車電子標(biāo)簽(OBU)的市場需求量有近千萬套。某國內(nèi)ETC行業(yè)的企業(yè)，OBU年銷量達數(shù)百萬套。他們在一款OBU中使用某MCU廠商的Cortex-M3內(nèi)核芯片作為主控MCU，量產(chǎn)時采用為在線編程的方式，在PCB板上，對MCU進行批量燒錄。就像：在燒片過程中，客戶發(fā)現(xiàn)燒錄良率非常低，經(jīng)常莫名的燒錄失敗。每天幾千套的產(chǎn)能要求，低良率生產(chǎn)，讓生產(chǎn)部門在燒錄環(huán)節(jié)束手無策。為提高產(chǎn)能效率及燒錄的穩(wěn)定性，客戶請求技術(shù)支持。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設(shè)定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

傅立葉變換紅外光譜技術(shù)結(jié)合其多種形式的非接觸測量方式，可以實現(xiàn)對氣體的主被動測量，非常適合用於化工業(yè)園區(qū)的排放現(xiàn)場監(jiān)測。FTIR技術(shù)用於氣體定量存在兩個主要問題，一是氣體分子吸收截麵受氣壓、溫度影響明顯，二是FTIR係統(tǒng)的分辨率一般遠小於氣體分子譜線的展寬，儀器線型受到乾涉圖采樣，切趾和輻射入射立體角等因素影響。這些影響因素使得表觀譜線產(chǎn)生難以忽略的偏移和展寬。20世紀80年代後期，隨著科學(xué)技術(shù)的進步，環(huán)境監(jiān)測技術(shù)迅速發(fā)展，儀器，計算機控製等現(xiàn)代化手段在大氣環(huán)境監(jiān)測中得到了廣泛應(yīng)用，自動連續(xù)監(jiān)測係統(tǒng)相繼問世。