HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
現(xiàn)貨供應(yīng) 衝擊電壓試驗(yàn)裝置 變頻諧振串聯(lián)諧振 變頻調(diào)感發(fā)電機(jī)交流耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

很多人似懂非懂，卻無從下手。如何使用示波器設(shè)置或數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)功能，對(duì)所測(cè)的數(shù)據(jù)進(jìn)行二次存儲(chǔ)，由此上演了猶抱琵琶半遮麵的經(jīng)典橋段。接下來讓我們來揭開它神秘的麵紗，讓你從此保存文件不再是難題。示波器的存儲(chǔ)字麵上理解也就是將所需的波形信息以不同的格式存儲(chǔ)下來便於我們做更深入的，存儲(chǔ)有以下幾個(gè)方麵的內(nèi)容：存儲(chǔ)的類型：有設(shè)置文件、二進(jìn)製數(shù)據(jù)、CSV數(shù)據(jù)、圖像格式(BMP圖像、JPG圖像、PNG圖像、灰度圖像);存儲(chǔ)方式：PrintScreen(一鍵存儲(chǔ))、Se/Recall(存儲(chǔ))、PC聯(lián)機(jī)截圖、以及ScopeReportTM;存儲(chǔ)路徑：本地閃存和外部存儲(chǔ)器(將U盤接入示波器USB口即可)。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

用於計(jì)量計(jì)費(fèi)的互感器準(zhǔn)確度一般為0.1~1級(jí)。由互感器原理可知，它是不能測(cè)量直流電流的，通常設(shè)計(jì)為工頻測(cè)量，準(zhǔn)確度為工頻下的參數(shù)，帶寬較窄，不適合用於諧波和非正弦測(cè)量。使用電流互感器一定注意不能將次級(jí)開路，否則將會(huì)產(chǎn)生高壓危及人身和設(shè)備**。電流互感器電流鉗電流鉗內(nèi)的鐵芯分成兩部分，避免斷開被測(cè)回路，非常便於測(cè)量且使用很廣泛。有基於電磁感應(yīng)原理和霍爾效應(yīng)兩種類型?；峨姶鸥袘?yīng)原理的電流鉗與互感器一樣，鐵芯被分成兩部分，閉合時(shí)兩部分鐵芯需要緊密結(jié)合，有些電流鉗次級(jí)連接了電阻輸出為電壓信號(hào)，冇有內(nèi)部電阻的輸出為電流信號(hào)。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

多數(shù)頻譜儀用戶都知道，測(cè)量高出頻譜儀顯示平均噪聲電平20dB以內(nèi)的信號(hào)都會(huì)受儀器本底噪聲的影響，而使得測(cè)量結(jié)果變差。頻譜儀測(cè)量的結(jié)果是RF輸入信號(hào)頻譜和儀器噪聲頻譜的疊加，是不是可以將頻譜儀本底噪聲測(cè)量出來，然後從頻譜儀每次測(cè)量結(jié)果中刪減掉本底噪聲呢？本底噪聲擴(kuò)展技術(shù)是一種利用已知的儀器的本底噪聲提高測(cè)量精度的校正算法，就是一種將前端的本底噪聲減掉，隻和顯示輸入信號(hào)的功率電平的測(cè)量方法，不僅可以提高測(cè)量精度，也可以擴(kuò)展動(dòng)態(tài)範(fàn)圍。