HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 衝擊電流發(fā)生器 帶時(shí)間直流高壓發(fā)生器 感應(yīng)耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

MOSI-主設(shè)備數(shù)據(jù)輸出，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設(shè)備數(shù)據(jù)輸入，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時(shí)鐘信號(hào)，由主設(shè)備產(chǎn)生;SS–從設(shè)備使能信號(hào)，有主設(shè)備控製;SPI標(biāo)準(zhǔn)通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點(diǎn)是傳輸數(shù)據(jù)快，能達(dá)到幾兆到幾十兆，並且冇有係統(tǒng)開銷。SPI總線的缺點(diǎn)也比較明顯，主要是冇有的流控製，也冇有應(yīng)答機(jī)製確認(rèn)是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類的SPI通訊接口方式。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

有光照的電池所產(chǎn)生的部分能量或所有的能量，都可能被"熱斑"的電池所消耗?！岸玖觥钡耐τ卸啻?？這顆毒瘤會(huì)對(duì)太陽(yáng)能電池會(huì)造成很嚴(yán)重地破壞作用，會(huì)嚴(yán)重的破壞太陽(yáng)電池組件或係統(tǒng)，所以需要對(duì)太陽(yáng)電池組件進(jìn)行熱斑檢測(cè)，使相對(duì)發(fā)熱均勻的電池片進(jìn)行組合或維護(hù)，以避免組件所產(chǎn)生的能量被熱斑的組件所消耗，同時(shí)避免由於熱斑可能給太陽(yáng)能組件或係統(tǒng)的壽命帶來(lái)的威脅，所以需要用到一款專業(yè)的工具來(lái)檢測(cè)這顆"毒瘤"，然後將其消滅。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

測(cè)試方法：?jiǎn)?dòng)測(cè)試：選擇啟動(dòng)測(cè)試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式，觸發(fā)電平設(shè)定為Va，當(dāng)待測(cè)電源輸出電壓達(dá)到Va時(shí)，開始測(cè)試；結(jié)束測(cè)試：選擇結(jié)束測(cè)試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式，觸發(fā)電平設(shè)定為Vb，當(dāng)待測(cè)電源輸出電壓達(dá)到Vb時(shí)，停止測(cè)試；負(fù)載計(jì)算出兩個(gè)觸發(fā)信號(hào)之間的時(shí)間差，即為待測(cè)電源的上升時(shí)間。類似的方法可以測(cè)試電源模塊的關(guān)機(jī)時(shí)間和下降時(shí)間。簡(jiǎn)單的電源、負(fù)載的搭建，無(wú)需軟件控製，即可完成測(cè)試係統(tǒng)的傳統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目。