HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
30年經(jīng)驗(yàn) 雷衝擊電壓發(fā)生器 智能型試驗(yàn)變壓器 過(guò)電壓保護(hù)器測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

工頻電磁場(chǎng)波形由於是測(cè)量電路存在周期性波動(dòng)，那工頻電磁場(chǎng)擾動(dòng)的可能性更大，用示波器觀測(cè)工頻電磁場(chǎng)波形如，一般認(rèn)為50Hz工頻電磁場(chǎng)乾擾是由兩方麵原因產(chǎn)生：50Hz工頻乾擾通過(guò)傳導(dǎo)進(jìn)入係統(tǒng)；50Hz工頻乾擾通過(guò)空間耦合進(jìn)入係統(tǒng)。針對(duì)上述問(wèn)題，消除50Hz工頻電磁場(chǎng)乾擾的方法也相對(duì)明確，有下述四種方案可供電路設(shè)計(jì)者去參考：利用電氣隔離，阻斷工頻乾擾的傳導(dǎo)路徑；敏感電路處搭建共模和濾波電路，濾除進(jìn)入輸入通道的工頻擾動(dòng)；軟件中構(gòu)建IIR陷波或者FIR帶阻數(shù)字濾波器，消除工頻乾擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響；降低測(cè)量引線回路麵積，增加，減弱空間耦合效應(yīng)。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

20世紀(jì)90年代的大部分時(shí)間，筆者都是在美國(guó)的矽穀度過(guò)的，當(dāng)時(shí)的美國(guó)及許多的電子商店都充斥著日本產(chǎn)品。所謂的小巧、輕薄——“輕薄短小”是日本產(chǎn)品的壓倒性的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)。現(xiàn)在我們通過(guò)途徑獲得了上世紀(jì)90年代、2000年以後的等距今20-30年前的具有曆史性（Historical）意義的產(chǎn)品，並進(jìn)行定期分解。並不是為了與今天的產(chǎn)品進(jìn)行對(duì)比，而是為了彙總當(dāng)時(shí)機(jī)械地（Mechanical）組合的產(chǎn)品如何被今天的電子產(chǎn)品所取代的。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

使用組合透鏡係統(tǒng)對(duì)物體成像，實(shí)現(xiàn)加電時(shí)液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場(chǎng)、局部高分辨率的效果。本文通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對(duì)於成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像係統(tǒng)測(cè)試目的：展示成像係統(tǒng)對(duì)於局部區(qū)域的清晰成像效果，測(cè)量不同位置、不同光圈下成像係統(tǒng)的MTF，其對(duì)於成像質(zhì)量的影響。測(cè)試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡係統(tǒng)放大器型號(hào):AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過(guò)程：1.實(shí)驗(yàn)室製備液晶透鏡，並通過(guò)乾涉法獲取波前信息，得到zernike係數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動(dòng)電壓；組裝成像係統(tǒng)，對(duì)不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn)；使用ISO12233板對(duì)成像係統(tǒng)進(jìn)行對(duì)焦測(cè)試，測(cè)試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。