安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀校驗儀 耐電壓測試儀校驗儀 HN係列 接地導(dǎo)通測試儀檢定裝置 生產(chǎn)廠家

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10TMOS管種類和結(jié)構(gòu)MOSFET管是FET的一種(另一種是JFET)，可以被製造成增強(qiáng)型或耗儘型，P溝道或N溝道共4種類型，但實際應(yīng)用的隻有增強(qiáng)型的N溝道MOS管和增強(qiáng)型的P溝道MOS管，所以通常提到NMOS，或者PMOS指的就是這兩種。右圖是這兩種MOS管的符號。至於為什麼不使用耗儘型的MOS管，不建議刨根問底。對於這兩種增強(qiáng)型MOS管，比較常用的是NMOS。原因是導(dǎo)通電阻小且容易製造。所以開關(guān)電源和馬達(dá)驅(qū)動的應(yīng)用中，一般都用NMOS。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)範(fàn)圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。當(dāng)號信號被脈衝調(diào)製後，信號的頻率譜密度會發(fā)生變化，為經(jīng)脈衝調(diào)製後的頻率譜。頻率譜特性按脈衝重複頻率PRF(pulseRepetitionFrequency)為等間隔的離散頻譜，頻譜形狀為sinx/x幸格函數(shù)。脈寬的倒數(shù)為過零點的位置。圖連續(xù)波經(jīng)脈衝調(diào)製後的功率譜1.1脈寬和脈衝重複頻率對相位噪聲的影響下圖水平位置表示脈衝重複頻率PRF保持不變，而改變脈衝寬度τ脈衝頻率譜的變化情況，垂直位置表示脈衝寬度τ保持不變，而改變脈衝重複頻率PRF脈衝頻率譜的變化情況。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級  0.5級  0.2級WSSX-483雙金屬溫度計是一種常用的現(xiàn)場檢測儀表，可以直接測量生產(chǎn)過程中-8℃-+5℃範(fàn)圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)溫度，具有測量、性能穩(wěn)定、可靠性高等優(yōu)點。本文主要來介紹一下WSSX-483雙金屬溫度計產(chǎn)品知識，希望可以幫助到大家。WSSX-483雙金屬溫度計簡介WSSX-483雙金屬溫度計帶有電接觸裝置一即機(jī)械電接點。當(dāng)被測介質(zhì)溫度變化時，自由端上的細(xì)軸及轉(zhuǎn)向傳動機(jī)構(gòu)帶動指針及動觸點轉(zhuǎn)動，在標(biāo)度盤上指示出溫度的變化值，當(dāng)其與定觸點(上、下限定觸點)接觸或斷開時的瞬時，使電路係統(tǒng)中的繼電器及接觸器動作，以達(dá)到自動控製和報警目的，應(yīng)符合JB/T8831998標(biāo)。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範(fàn)圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz熱像儀每秒記錄一次溫度。數(shù)據(jù)圖形是圖像中所有像素的平均值。數(shù)據(jù)直方圖雖然顯示得更清楚，但大部分的數(shù)據(jù)點都位於36.8?C至37?C之間。記錄的寬溫度範(fàn)圍是從36.6?C至37.2?C。我們來看下這個數(shù)據(jù)，所有像素平均值的預(yù)期精度可能達(dá)到0.5?C。有些人可能甚至?xí)暦QFLIRA325sc等使用相同探測器的其他熱像儀的精度為±1?C。不過，也有些人可能會辯稱，上麵圖形顯示的是所有像素的平均值，可能並不能代表個彆的像素。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。從事件表我們看到，幀CAN-FD的位置在-12.479ms，也就是在內(nèi)存數(shù)據(jù)的開端，已經(jīng)達(dá)到了全內(nèi)存。當(dāng)然這種功能強(qiáng)大的全內(nèi)存也是受一定條件約束的，我們在下麵的內(nèi)容中會提到。係統(tǒng)會判斷情況新特性是基於保持原來速度，儘量拓寬範(fàn)圍的思想設(shè)計出來的。這意味著，對於大數(shù)據(jù)量的，是基於一定比例的樣本點抽取後進(jìn)行的(用於的數(shù)據(jù)量越少，越快)。係統(tǒng)會根據(jù)抽點的情況，與協(xié)議的特點(波特率等)比較，判斷是否存在風(fēng)險(錯誤或不能的風(fēng)險)。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

直流電阻測試儀校驗儀 耐電壓測試儀校驗儀 HN係列 接地導(dǎo)通測試儀檢定裝置 生產(chǎn)廠家時間交錯技術(shù)可使用多個相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用於DAC的時間交錯特性），並以比每一個單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡單說來，時間交錯（IL）由時間多路複用M個相同的ADC並聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的淨(jìng)采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個ADC實際上以較低的速率進(jìn)行采樣（和轉(zhuǎn)換），即fs/M。舉例而言，通過交錯四個10位/100MSPSADC，理論上可以實現(xiàn)10位/400MSPSADC。