單芯片集成的趨勢使得手持設備變的小巧而可靠，並具備了多種功能?，F(xiàn)在的驅(qū)動器的尺寸已經(jīng)小於1mm3，但仍然能提供高質(zhì)量、無明顯乾擾的輸出信號。除了半導體製造技術(shù)的進步之外，小尺寸的芯片和表麵貼裝芯片的流行也意味著更多的高科技元件能做成的體積。表麵貼裝芯片比過孔式模型有更多的優(yōu)勢，比如能用取放機器進行簡單的自動組裝，在節(jié)省空間的雙麵電路板設計方麵提供更多的靈活性。采用較少的元件是另一個節(jié)省空間和能量的趨勢，它能使便攜設備在變小的同時延長了電池壽命。
HN7080A變壓器綜合測試係統(tǒng)華能 變壓器綜合試驗臺 變壓器特性綜合試驗係統(tǒng) 操作說明

兩種操作模式：自動模式、按鈕模式，且兩種操作模式自動互鎖；

自動化程度高，具有一鍵啟動可自動完成空載試驗、負載試驗、變比測量、直流電阻測量、工頻試驗、感應試驗；

集成度高、功能齊全，滿足10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV等不同電壓等級電力變壓器和特種變壓器出廠試驗、型式試驗、試驗；

試驗項目：

      空載損耗測量、空載電流百分比（自動換算到額定電壓下數(shù)值）；

      負載損耗測量、阻抗電壓百分比（自動換算到額定電流參考溫度下數(shù)值）；

      繞組直流電阻快速測量；

      變比組彆自動測量（電壓比測量，連接組標號試驗）；

      外施耐壓試驗（工頻耐壓試驗）；

      感應耐壓試驗（倍頻倍壓試驗）；

      絕緣電阻測量；

      雷電衝擊試驗；

      絕緣油試驗（擊穿電壓、閃點、酸值、體積電阻率、水分等）；

      局部放電試驗；

      溫升試驗；

可完成10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV及特種變壓器的出廠試驗、型式試驗和試驗；華能 變壓器綜合試驗臺 變壓器特性綜合試驗係統(tǒng) 操作說明測試原理地線漂移：利用電源不斷抬高DUT的GND，測試總線通訊正常時，DUT所允許的地線漂移。地線丟失：使DUT單掉地，測試1分鐘內(nèi)DUT是否仍然正常工作。電源丟失：使DUT單丟失電源，測試總線是否受到乾擾，重接電源後DUT是否能恢複通訊。CAN線中斷：測試在CAN_H斷開1分鐘，重連後DUT是否能恢複通訊。CAN_L斷開1分鐘，重連後DUT是否能恢複通訊。CAN_H和CAN_L同時斷開1分鐘，重連後DUT是否能恢複通訊。