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據(jù)故宮博物院院長單霽翔介紹,、希臘同為擁有悠久曆史的文明古國,在收藏與研究保護領域多有共通之處。希臘電子結(jié)構(gòu)與研究所在光學領域享譽歐洲,一直致力於將技術(shù)應用於文化遺產(chǎn)的研究與保護工作中。特彆是他們近與雅典衛(wèi)城博物館合作的“大理石表麵汙染物”項目,獲得了修護協(xié)會頒發(fā)的凱克獎,已經(jīng)成為世界範圍內(nèi)石質(zhì)清洗的代表案例。高科技設備可釉燒溫度隨著時代發(fā)展,科學技術(shù)在保護過程中應用日益廣泛,為害的診斷、的預防性保護和修複提供了重要的支撐。
HN10A互感器特性綜合測試儀互感器伏安特性測試儀 電流互感器儀 磁性能測量儀
功能簡介:
測試互感器:PT、CT(保護類、計量類)、伏安特性(勵磁特性)曲線、自動給出點值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位(角差)測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設計的多功能現(xiàn)場試驗儀器。
技術(shù)參數(shù):
1、工作電源:AC220V±10% 、50Hz
2、設備輸出:0~2500Vrms, 5Arms(20A峰值)
3、大電流輸出:0~1000A
4、二次繞組電阻測量範圍:0.1~50Ω
5、二次繞組電阻測量準度:≤0.5%、分辨力0.01
6、二次實際負荷測量範圍:5~300VA
7、二次實際負荷測量準度:≤0.5%±0.1VA一直以來,汽車的測試都離不開CAN,而CAN的應用也離不開汽車行業(yè)。在新能源汽車越發(fā)成熟的今天,CAN的一致性測試也成為各整車廠和零部件廠商關注的焦點。這裡對CAN一致性測試中的負載率測試做一些簡單的介紹。負載率測試是CAN協(xié)議一致性測試裡的必測項目,不同的測試人員對其的理解也有些差異。大多的測試主要分為兩項,一項為測試CAN總線的負載率,另一項則是總線負載壓力測試,我們對兩項常見的負載情況測試做一下測試方法的解析。
軟件使用說明
11.1 將配套光盤放入計算機光驅(qū)中,解壓“軟件”至C盤根目錄。
11.2,安裝“wic_x86_chs.exe”文件,其次,安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件,默認安裝地址即可。
11.3安裝完畢後,打開“伏安特性”文件夾,選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件,如圖38即為上位機操作軟件。
11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中,下方選擇互感器種類“CT”或“PT”,應用語言“中文”或“英文”。
11.5如需生成報告格式文件,必須載入試驗結(jié)果數(shù)據(jù),具體操作方法如下:
a)、將存儲試驗數(shù)據(jù)的U盤連接至計算機。
b)、在圖38中選擇打開“選擇文件”,出現(xiàn)圖39操作窗口,在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。
c)、試驗結(jié)果數(shù)據(jù)說明:以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵磁特性結(jié)果數(shù)據(jù),以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù),以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負荷結(jié)果數(shù)據(jù),以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù),以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。
11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束後,選擇“確定”出現(xiàn)圖40界麵,在此界麵右上方設置相應參數(shù)後,選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗結(jié)果的載入。
11.7 載入完成後,可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。
11.8 選擇“保存”選項,則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。
11.9 如需繼續(xù)加載試驗結(jié)果數(shù)據(jù),請先上次載入的數(shù)據(jù)。
HN12A變頻式互感器綜合儀(CT/PT儀)
功能簡介:
1 勵磁特性試驗
2 變比試驗
3 相位和極性試驗
4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量
5 CT二次繞組電阻測量
6 CT二次回路負荷測量
7 CT暫態(tài)特性測試與
8 CT升流試驗
9 測量校核型號的CT、PT,包括保護CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.
10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.
自動給出點電壓/電流、 10%誤差曲線、 5%誤差曲線、準確限值係數(shù)(ALF)、 儀表保安係數(shù)(FS)、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。
技術(shù)參數(shù):
輸出電壓:0~180V (RMS)
■ 輸出電流:0~12A,峰值36A
■ 電壓測量:準確度 ±0.1%
■ CT變比測量範圍:1~30000
■ PT變比測量範圍:1~30000互感器伏安特性測試儀 電流互感器儀 磁性能測量儀無論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間,都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能,以幫助芯片製造商應對他們麵臨的挑戰(zhàn),這一點通過NI的PXISMU可以完全體現(xiàn)出來?!庇伸镀涓咄掏铝俊⒏咝詢r比和占地麵積小,NI的半導體測試係統(tǒng)(STS)正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能,它能提供更高的直流通道密度,使多站點應用具有更高的並行性,以及在生產(chǎn)中提供實驗室級彆的測量質(zhì)量。